gigahertz-optik X1-XD-45-HB

gigahertz-optik X1-XD-45-HB

广东 深圳
面议/ 件
1
1000
我要询价

gigahertz-optik X1-XD-45-HB


gigahertz-optik X1-XD-45-HB

gigahertz-optik X1-XD-45-HB



光生物安全

来自人造和天然光源的光辐射会影响人体皮肤和眼睛的光生物学反应,并有因过度曝光而造成损坏的风险。针对工作场所的设备安全和职业安全,发布了包含有效限值的法规,标准和指南。国际上一致认可的设备安全要求要求制造商为其产品分类,设计标准和警告标签,而工作场所安全则更趋于全国性,要求对员工的健康进行危害保护,包括已发布的接触限值,威胁分析和预防措施。最新法规是:


设备安全的IEC 62471:2006和EN 62471:2008

2006/25 / EC指南和DIN EN 14255-1,用于工作场所安全

IEC TR 62778:2014,用于评估光源和具的蓝光危害

整体测量技术

Gigahertz-Optik GmbH作为高端滤光光度计,色度计和辐射度计的世界级制造商,自1992年以来就制造了用于光危害测量和评估的光度计。危害光度计的早期单传感器设计后来被双或多传感器取代。单元检测器可改善测量不确定度(可以更好地调节光谱灵敏度功能),并且操作更简单。最新的设计模型X1-3光危害仪符合2006/25 / EC,IEC 62471,EN 62471,EN 14255-1和IEC TR 62778测量标准,用于评估危害暴露。


整体测量技术与双重单色仪

积分测量技术是对双光栅单色仪光谱辐射仪(该应用最精确的紫外线辐射仪)的补充或替代测量方法。基于双单色仪的仪器价格昂贵,基于实验室,精密且包括多个部件,因此很难移动。现在,Gigahertz-Optik的X1-3光危害仪可提供便携式,手持且低成本的解决方案。完整的仪器包括紧凑型显示单元,XD-45-HB蓝光危害检测器和XD-45-HUV紫外线危害检测器。它是专为评估工作场所安全和产品分类中由于暴露于紫外线和蓝光下而引起的潜在健康风险而设计的。它的简单用法和价格水平满足了灯具分销商,光源系统和照明设备制造商,机构和工业安全工程师,卫生学家以及其他无需第三方测试实验室即可独立进行例行和定期危害健康的光辐射测量的需要。


校准

Gigahertz-Optik GmbH强调准确的保形紫外线和蓝光危险光测量需要具备基本的辐射学知识,并遵循适当的辐射技术并了解适用的标准!由于我们测量每个集成传感器的相对光谱灵敏度,因此已发布的CIE 220批准了我们的校准方法。该数据可以用于例如光谱失配的校正。这表明,除了生产这种仪表的专业知识外,还需要装备精良的校准实验室。Gigahertz-Optik可以提供最高级别的服务,此外,每台设备均附带校准证书,该证书可追溯到国家标准。



X1-3显示单元

为了在紫外线,蓝色和可见光谱范围内进行现场光危害测量,Gigahertz-Optik制造了多种检测器头,每个检测器头均采用多种传感器设计,例如最常见的XD-45-HB和XD-45-HUV。要读取此多单元检测器,请使用X1-3显示单元,其主要功能是:


多细胞检测器的四通道电子设备

宽动态范围(0.1 pA至200 μA放大器

低噪声,高灵敏度(0.1 pA分辨率)

自动量程增益控制

四列字母数字背光显示

强大的微处理器操作

大数据存储容量

简单易用的菜单支持操作

符合人体工学的手持式仪表设计

电池或USB电源操作

USB接口


快速操作指南

打开仪表后,通过按菜单按钮可以打开主菜单。根据测量应用,通过其型号选择连接到仪表的紫外线危害或蓝光危害检测器。通过输入键激活检测器校准数据,并自动将显示设置为相关的测量值。如果应用中的光源特性未知,则使用平均校准系数。与光源发射光谱相关的测量不确定度被计入平均仪器不确定度。如果可以无可辩驳地识别光源,则可以从菜单中的库中选择依赖于光源的校准校正因子,以减少测量不确定度。然后仪器准备好进行实际测量。


文章编号 型号 描述 请求/比较

产品

X1-3

仪表,硬盒,2 x 1.5 V AA电池,手动


XD-45-HB

检测头,保护盖,校准证书


XD-45-HUV

探测器头,保护盖,80°FOV适配器,校准证书


校准

KP-XD45HBX1-EI

选项:DIN EN ISO / IEC 17025:2018测试证书(DAkkS)。


在300nm至700nm的波长范围内的整体辐照度和照度。结合X1验光仪。


KP-XD45HUVX1-EI

选项:DIN EN ISO / IEC 17025:2018测试证书(DAkkS)。


波长范围为315 nm至400 nm的积分辐照度和ICNIRP / ACGIH加权范围为200 nm至400 nm的积分辐照度。结合X1验光仪。


KP-XD45HUVXD45HBX1-EI

选项:DIN EN ISO / IEC 17025:2018测试证书(DAkkS)。


XD-45-HUV在315 nm至400 nm波长范围内的积分辐照度和ICNIRP / ACGIH加权在200 nm至400 nm波长范围内的积分辐照度。


XD-45-HB在300nm至700nm波长范围内的整体辐照度和照度。结合X1验光仪。


重新校准

K-X1-C

验光仪X1的当前校准和调整1.校准证书


K-XD45HB-I

用校准证书重新校准辐照度


KKP-XD45HBX1-EI

XD-45-HB出厂校准证书以及DIN EN ISO / IEC 17025:2018测试证书。结合X1验光仪。


K-XD45HUV-I

用校准证书重新校准辐照度


KKP-XD45HUVX1-EI

XD-45-HUV工厂校准证书以及DIN EN ISO / IEC 17025:2018测试证书。结合X1验光仪。


KKP-XD45HUVXD45HBX1-EI

XD-45-HB和XD-45-HUV工厂校准证书以及DIN EN ISO / IEC 17025:2018测试证书。结合X1验光仪。


选项

XD-45-HB-SRT200

前置适配器,可互换11弧度和100弧度光圈


XD-45-HB-SRT200-铝

前置适配器可更换11毫弧度和100毫弧度的光圈。铝制管,包括黑色内涂层。适用于测量位置的较高温度。


软件

S-X1

X1的用户软件


S-SDK-X20

用于将X20验光板或X1设备的软件实施到定制软件中。提供用于设备通讯的.dll和LabView VI。